BS IEC 60748-23-2-2002 半导体器件.集成电路.混合集成电路和薄膜结构.生产线认证.内部目视检查和特殊试验
作者:标准资料网 时间:2024-05-21 22:37:49 浏览:9543
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Integratedcircuits-Hybridintegratedcircuitsandfilmstructures-Manufacturinglinecertification-Internalvisualinspectionandspecialtests
【原文标准名称】:半导体器件.集成电路.混合集成电路和薄膜结构.生产线认证.内部目视检查和特殊试验
【标准号】:BSIEC60748-23-2-2002
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2002-06-21
【实施或试行日期】:2002-06-21
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;半导体器件;试验;集成电路;定义;定义;能力鉴定;膜集成电路;混合薄膜集成电路;混合集成电路;薄膜电路;电子设备及元件;外观检查(试验)
【英文主题词】:
【摘要】:TobereadinconjunctionwithBSIEC60748-23-1:2002,BSIEC60748-23-3:2002,BSIEC60748-23-4:2002
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:100P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.集成电路.混合集成电路和薄膜结构.生产线认证.内部目视检查和特殊试验
【标准号】:BSIEC60748-23-2-2002
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2002-06-21
【实施或试行日期】:2002-06-21
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;半导体器件;试验;集成电路;定义;定义;能力鉴定;膜集成电路;混合薄膜集成电路;混合集成电路;薄膜电路;电子设备及元件;外观检查(试验)
【英文主题词】:
【摘要】:TobereadinconjunctionwithBSIEC60748-23-1:2002,BSIEC60748-23-3:2002,BSIEC60748-23-4:2002
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:100P;A4
【正文语种】:英语
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