ANSI/EIA/TIA 455-173-1990 用光纤侧面观测法测量涂层几何尺寸

作者:标准资料网时间:2024-04-28 23:57:23 浏览:8576 来源:标准资料网

【英文标准名称】:CoatingGeometryMeasurementforOpticalFiberSideViewMethod
【原文标准名称】:用光纤侧面观测法测量涂层几何尺寸
【标准号】:ANSI/EIA/TIA455-173-1990
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1990
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:fibreoptics;coatings;opticalwaveguides;measuringtechniques
【摘要】:Describesaprocedureformeasuringthepolarization-modedispersion(PMD)ofsingle-modeopticalfibers.Thisstandardwaslistedforpublicreviewinthe5/5/2000issueofStandardsAction.Itisbeingresubmittedduetosubstantivechangestothetext.
【中国标准分类号】:M33
【国际标准分类号】:33_180_10
【页数】:
【正文语种】:英语

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标准名称：	水电厂自动化元件(装置)及其系统运行维护与检修试验规程
替代情况：	替代DL/T 619-1997
发布部门：	国家能源局
发布日期：	2012-01-04
实施日期：	2012-03-01
首发日期：
作废日期：
出版社：	中国电力出版社
出版日期：	2012-03-01